检测目的

　　验证芯片的电学性能是否符合设计要求，确保芯片在不同工作条件下能够正常、稳定地工作.

　　为芯片的质量控制、良品筛选提供依据，剔除性能不达标的芯片，提高产品的整体良率.

　　帮助工程师了解芯片的基本电气特性，为芯片的应用开发、系统设计提供参考数据 。

检测原理

　　芯片直流参数测试仪基于电路的基本定律和测量技术，通过向芯片施加精确的直流电压或电流激励，并测量芯片相应的电流、电压等响应信号，从而计算得出各种直流参数 。

主要检测参数

　　电源电压测试：测量芯片在不同电压下的电流变化，确定芯片的最小和最大电源电压范围，以确保芯片在正常工作时所接收到的电源电压在规定范围内，避免因电源电压过高或过低导致芯片损坏或性能异常.

　　地引脚测试：主要测量芯片的接地电压，检查其是否符合设计规范，保证芯片的接地良好，防止因接地问题引发芯片工作不稳定或失效等问题.

　　I-V 测试：即电流 - 电压特性测试，在恒定电压下测量芯片中的电流变化，或在恒定电流下测量芯片中的电压变化，以此确定芯片在不同电压或电流下的性能，例如晶体管的阈值电压、饱和电流等参数，了解芯片的工作特性和性能表现.

　　电阻测试：测量芯片中不同部件之间的电阻大小，确保其电阻值在设计要求的合理范围内，避免因电阻异常导致芯片内部电流分布不均、功耗过大等问题，进而影响芯片的正常工作甚至造成芯片损坏.

　　漏电流测试：检测芯片在不同工作状态下的漏电流大小，如输入引脚的高电平漏电流 和低电平漏电流 等。漏电流过大会导致芯片功耗增加、发热严重，甚至影响芯片的功能和可靠性.

检测设备及特点

　　精密测量单元(PMU)：是芯片直流参数测试中常用的测量和控制单元，能够精确地测量电流、电压和功率等参数，并具有高精度、高速度的测量能力，可以实现微秒级别的电学测量，比传统的测量方法更加准确和快速。一些高端的测试设备会为每个通道都配置一个 PMU，以实现更高效、更精确的测试.

　　动态数字 I/O 板卡：往往会搭载 PMU 引脚功能来进行 DC 参数测试，不同档次的测试设备所搭载的 PMU 数量有所不同。例如，低端设备可能只有一个 PMU，通过共享的方式被测试通道逐次使用;中端设备则通常有一组 PMU，数量为 8 个或 16 个，与一组通道相对应，可整组逐次使用.

　　自动化测试执行管理软件：如虹科的 ATEasy 等软件，可与测试设备配合使用，能够快速完成测试程序开发，高效精准地执行芯片直流特性测试，并自动生成测试报告，大大提高了测试效率和测试结果的准确性